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Publikationen 1996-2000


2000

Autor(en)

Titel

Zeitschrift/Kon­fe­renz

Ort

Weißgerber, T.; Peier, D.; Hirsch, H. Beobachtung störkritischer Zeitabschnitte bei mikrocontrollerbasierten Geräten Tagungsband der EMV, VDE-Verlag Berlin/Offenbach Düsseldorf, Germany
Weißgerber, T.; Peier, D. Evaluation of the Shielding Effectiveness of Thin Conductive Materials by Measurments with the Coaxial TEM-Cell EMC Brugge, Belgium
Teunissen, J.; Helmig, C.; Peier, D. Fiber Bragg Gratings for Thermal H-V Transformer Online-Monitoring Proc. Of the 14th OFS Conference Venice, Italy
Teunissen, J.; Helmig, C.; Merte, R.; Peier, D. Fiber optical on­line monitoring for high-voltage transformers, Fiber Optic Sensor Technology II Proceedings of SPIE, Volume 4204 Boston, USA
Teunissen, J.; Helmig, C.; Peier, D. Mög­lich­keiten des Einsatzes faseroptischer Bragg-Gitter zur On-Line-Temperaturmessung VDI Bericht, Vol. 1530, pp. 453-461, VDI-Verlag GmbH Düsseldorf, Germany
Temmen, K.; Peier, D. Four Different Strategies for the Evaluation of Partial Discharge Measurement 7th International Conference on Optimization of Electrical and Electronic Equipments Brasov, Romania
Temmen, K. Evaluation of Surface Changes in Flat Cavities due to Aging by Means of Phase-Angel Resolved PD-Measurement Journal of Physics D: Applied Physics, Vol. 33, Nr. 6, S. 603 - 608  
Temmen, K. Assessment of Insulation Materials Aged by Surface Discharges 8th International Conference on Dielectric Materials, Measurements and Applications Edinburgh, UK
Rümenapp, T.; Peier, D. Investigation of the Ageing Per­for­mance of AlN-Ceramic used in High-Power-Semiconductors 8th International Conference Dielectric Materials, Measurements and Applications Edinburgh, UK
Peier, D.; Bayard, G.; Fredebeul, Ch. Entwurfsverfahren auf Basis eines konsequenten Schnittstellen-Managements Intern. Kon­fe­renz für Elektronik im Kraftfahrzeug Baden-Baden, Germany
Kempen, S.; Peier, D.; Hirsch, H. EMV in zukünftigen 42 V – Kraftfahrzeugbordnetzen Tagung: Elektronik im KFZ Baden-Baden, Germany
Kappel, U.; Borneburg, D.; Hirsch, H. Vergleich theoretische und ex­pe­ri­men­tell ermittelter Umrechnungsfaktoren zwischen Vollabsorberkammer und Freifeld Tagungsband der EMV, VDE-Verlag Berlin / Offenbach Düsseldorf, Germany
Helmig, C.; Teunissen, J. Optical Low-Cost Temperature Point Sensor Proceedings of SPIE Volume 4074 Applications of Optical Fiber Sensors Glasgow, Scotland
Helmig, C.; Peier, D.; Teunissen, J. Optical Current Sensor Using Two Flint Glass Fibers as Sensing Element Proceedings of 14th Int. Conference on Optical Fiber Sensors, Paper P2-34 Venice, Italy
Helmig, C.; Merte, R.; Temmen, K. Optical Partial Discharge Sensor for On-Line-Monitoring of Oil Insulated Transformers Proceedings of 14th Int. Conference on Optical Fiber Sensors,Paper P1-09 Venice, Italy
Ebke, T.; Khaddour, A.; Peier, D. Degradation of silicone gel by partial discharges due to different defects 8th International Conference on Dielectric Materials, Measurements and Applications Edingurgh, UK
Borneburg, D.; Peier, D.; Aschenbrenner, D.; Lapp, A.; Kranz, H.-G. Application of an Automated PD Failure Identification System for EMC-Assessment Strategies of multiple PD Defects at HV-Insulators 8th International Conference on Dielectric Materials, Measurements and Applications Edinburgh, UK
Bayard, G.; Peier, D.; Füzi, J. Investigations on Electric Circuit Simulation Taking Ferromagnetic Hysteresis at Transient Excitation Into Account 7th Int. Conference on Optimization of Electrical and Electronic Equip­ment Brasov, Romania
Bayard, G.; Peier, D.; Blum, H.; Fredebeul, Ch. Approach to Nonlinear Network Synthesis Using Modified Newton-Raphson Method 7th Int. Conference on Optimization of Electrical and Electronic Equip­ment Brasov, Romania
Bayard, G.; Peier, D.; Fredebeul, Ch. Comparison between Global Optimization and Path Continuation for Nonlinear Network Identification Int. Conference on Coil Winding, Insulations & Electrical Manufacturing Berlin, Germany
Bayard, G.; Peier, D. Investigations on Evolutionary Strategies for Parameter Optimization to Forecast the Behaviour of Ferromagnetic Materials at Transient Excitation 7th Int. Conference on Optimization of Electrical and Electronic Equip­ment Brasov, Germany

 

1999

Autor(en)

Titel

Zeitschrift/Kon­fe­renz

Ort

Weißgerber, T.; Peier, D. Deterministisches Chaos im Störverhalten mikroprozessor-basierter Geräte International Symposium on Electromagnetic Compatibility Magdeburg, Germany
Temmen, K. Bewertung von alterungsbedingten Oberflächenveränderungen in spaltförmigen Hohlräumen mittels phasenaufgelöster TE-Messung ETG-Fachbericht 76, S. 185-190 VDE-Verlag  
Temmen, K. Influence of the Degree of Parallel Partial Discharges on the Degradation of the Insulation Material 11th International Symposium on High Voltage Engineering London, UK
Rümenapp, T. Zur Alterung von Aluminiumnitrid und Silikonweichvergußmassen in Hochleistungs-IGBT-Modulen ETG-Fachtagung: Einfluß von Grenzflächen auf die Lebensdauer elektrischer Isolierungen, Tagungsband S. 69-76 Bad Nauheim, Germany
Rümenapp, T.; Peier, D. Dielectric Breakdown in Aluminium Nitride 11th International Symposium on High Voltage Engineering, Proc. Vol. 4 S. 373 376 London, UK
Rümenapp, T.; Ebke, T.; Peier, D. Zur elektrischen Festigkeit des Packaging bei Hochleistungs-IGBT-Modulen Leistungselektronik und intelligente Bewegungssteuerung, Tagungsband S. 20-25 Magdeburg, Germany
Peier, D.; Temmen, K. Beurteilung der Degradation von Isolierungen mittels Teilentladungsmessung ELEKTRIE, Sonderausgabe 9/99 Berlin, Germany
Kappel, U.; Hirsch, H.; Borneburg, D. Korrelation zwischen ver­schie­de­nen Emissionsmeßverfahren mit azimuthaler Maximumsuche International Symposium on Electromagnetic Compatibility, S. 111-114 Magdeburg, Germany
Helmig, C.; Peier, D. Alternative Technologien zur Messung wich­ti­ger Betriebskenngrößen in Energienetzen ELEKTRIE, Sonderausgabe 9/99 Berlin, Germany
Helmig, C.; Peier, D. Optical Measurement System for Power Cable Monitoring Proceedings of 13th Int. Conference on Optical Fiber Sensors OFS-13, Paper P1-11 Kyongju, Korea
Ebke, T.; Peier, D.; Temmen, K. Influence of Manufacturing Parameters on the PD-Bahaviour of AlN-Substrates 11th International Symposium on High Voltage Engineering, Proc. Vol. 5 London, UK
Borneburg, D.; Temmen, K.; Peier, D. EMV-Bewertung von Hochspannungsisolatoren anhand von Teilentladungsmessungen International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Proc. P.89 Magdeburg, Germany
Borneburg, D.; Temmen, K.; Peier, D. EMV-Bewertung von Hochspannungsisolatoren anhand von TE-Messung International Symposium on Electromagnetic Compatibility Magdeburg, Germany
Borneburg, D. Prediction of Field Radiation due to Partial Discharges at HV Insulators by Measurement of Apparent Charge or RIV 11th International Symposium on High Voltage Engineering, Publ.. Volume 4 London, UK
Bayard, G.; Füzi, J.; Peier, D. Ignition Transformer Dynamic Modelling Proceedings of International Symposium on Non-Linear Electromagnetic Systems Pavia, Italy

 

1998

Autor(en)

Titel

Zeitschrift/Kon­fe­renz

Ort

Weißgerber, T.; Peier, D. Electromagnetic Susceptibility of TTL and CMOS Inverters 6th International Conference on Optimization of Electrical and Electronic Equip­ment, Proc. Vol.1 Brasov, Romania
Rümenapp, T.; Borneburg, D. Analyse der Störfestigkeit eines EEG-Gerätes an einer Kopfnachbildung mit humananalogen Leitwertverhältnissen 6. Internationale Fachmesse und Kongreß für Elektromagnetische Verträglichkeit, Konferenzband S.75-82 Düsseldorf, Germany
Koch, A.; Peier, D.; Senftleben, H. Erfassung elektrischer Größen mittels in Energiekabeln und Endverschlüssen integrierter Lichtwellenleiter Abschlußbericht zum NOVOS-Ver­bund­pro­jekt, VDI/VDE-Reihe: Innovationen in der Mikrosystemtechnik, Band 58, S. 3-1 bis 3-36  
Helmig, C.; Koch, A.; Peier, D.; Senftleben, H. Polarimetrische Koppeleinheit für optische Strom- und Spannungssensoren ITG-Fachbericht 148 zur Fachtagung Sensoren und Meßtechnik, S. 413–420, VDE-Verlag  
Engel, K. Bewertung von Teilentladungen in spaltförmigen Isolierstoffdefekten Dissertation, Shaker Verlag Aachen Uni­ver­sity of Dort­mund, Germany
Borneburg, D.; Engel , K. Experimental Investigation of Electromagnetic Interference due to Partial Discharge at High Voltage Insulators ERA Conference Measurements and Calibration in High Voltage Testing, Proc. P. 5.2.1 London, UK
Borneburg, D.; Engel, K. Teilentladungsmonitoring: Synchrone TE-Strommessung zur Bewertung von TE in Spalten tm – Technisches Messen 11.1998, S. 407 ff., R. Oldenbourg Verlag  
Borneburg, D.; Engel, K. Experimental Investigations of Electromagnetic Interference due to Partial Discharge at HV Insulators 4th European Conference and Exhibition on Measurements and Calibration in High Voltage Testing London, UK
Bayard, G.; Peier, D; Wetter, M. Measurement System for the Determination of the Properties of Soft Magnetic Materials for Multifrequent Excitation 6th International Conference on Optimization of Electrical and Electronic Equip­ment, Proc, Vol. I S. 15-20 Brasov, Romania
Bayard, G.; Peier, D.; Wetter, M. Measurement and Simulation of the Properties of Electrical Sheet Steel in Converter-Fed Prime Movers Coil Winding/ Insulation/Elecrical Manufacturing ´98, Konferenzband S. 121-125 Berlin, Germany
Bayard, G.; Durth, R.; Wetter, M. Simulation des Störpegels im Kfz-Bordnetz infolge kompakter Einzelzündsysteme 6. Internationale Fachmesse und Kongreß für Elektromagnetische Verträglichkeit, Konferenzband, S. 785-792, VDE-Verlag Düsseldorf, Germany
Altmann, A.; Engel, K.; Peier, D.; Senske, K. Partial Discharge Analysis during Accelerated Aging Tests for the Optimization of HV Electrical Machine Insulation 6th International Conference on Optimization of Electrical and Electronic Equipments, Proc. Vol. I, S. 181-184 Brasov, Romania
Altmann, A.; Engel, K.; Peier, D. On the Aging of Epoxy Resin Based Coil Insulation Coil Winding/Insulation/Electrical Manufacturing '98, Proc. S. 155-164 Berlin, Germany

 

1997

Autor(en)

Titel

Zeitschrift/Kon­fe­renz

Ort

Stricker, G. Modell zur Impulsfeldberechnung an endlich lan­gen Freileitungsstrukturen Elektrie 51 (1997) 3/4, S. 98-103  
Stricker, G. Investigation of the Disturbance Fields of Partial Discharges in Elementary High Voltage Setups Proc. EMC, No. 18D3, S. 101-104 Zurich, Switzerland
Senftleben, H.; Bosselmann, T.; Schnettler, A.; Schuster, M.; Voss, H.-J. Strom- und Spannungsmessung mit modernen Sensoren in elektrischen Energienetzen ETG-Fachbericht 64 (ISBN 3-8007-2244-5), VDE-Verlag Berlin Offenbach  
Koch, A.; Helmig, C.; Senftleben, H. Experimental Studies on a Temperature Compensation for Optical Voltage Sensing 12th International Conference on Optical Fiber Sensors OFS-12, OSA Technical Digest Series Williamsburg, USA
Harjes, B.; Peier, D.; Przytulla, F.-A. Aktueller Stand der Sensorik und der prozeßnahen In­for­ma­tions­ver­ar­bei­tung in der Energietechnik ETG-Fachbericht 64: Sensorik und prozeßnahe In­for­ma­tions­ver­ar­bei­tung in der Energietechnik, 3/1997, S. 9-25  
Engel, K.; Peier, D. Physically Based Interpretation of Partial Discharges in Flat Cavities 10th International Symposium of High Voltage Engineering Montreal, Canada
Engel, K.; Peier, D. The Influence of Dielectric Material on Partial Discharges in Flat Cavities International Conference on Dielectrics and Insulation Budapest, Hungary

 

1996

Autor(en)

Titel

Zeitschrift/Kon­fe­renz

Ort

Senftleben, H.; Peier, D.; Glombitza, U. Distributed Fibre Optic Current Sensors for Earth Fault Location on Power Cables Proceedings of 11th Int. Conf. On Optical Fiber Sensors OFS-11 Sapporo, Japan
Korth, M.; Hirsch, H. Störfestigkeitsnachweis bei mikroprozessorbasierten Systemen -Wie sicher ist die Aussage normgerechter Prüfungen? EMC-Journal, 2/1996, S. 56-59  
Jendernalik, L.; Peier, D.; Schaller, R. TEMpact: Resonanzfreie TEM-Zellen in Kompaktbauweise Tagungsband EMV ´96: Elektromagnetische Verträglichkeit Karlsruhe, Germany
Jendernalik, L.; Peier, D.; Schaller, R. TEMpact: eine neue TEM-Zellen-Ge­ne­ra­ti­on – Aufbau und Bewertung von TEMpact-Zellen EMC-Journal 1996: EMV Kompendium ´96, S. 219-221  
Stricker, G.; Peier, D. Kalibrierung von Absorberräumen für EMI-Tests - Hallenfaktormessungen mit Impulsfeldsendern niedriger Pulsfolgefrequenz EMC Journal 7 (1996) 1, S. 78-82  
Peier, D.; Engel, K. Rechnergestützte Auswertung von TE-Meßergebnissen – Neuronale Netze und Multivariate Statistik ETG-Fachbericht 56, VDE-Verlag  

Anfahrt & Lageplan

Der Cam­pus der Technischen Uni­ver­si­tät Dort­mund liegt in der Nähe des Autobahnkreuzes Dort­mund West, wo die Sauerlandlinie A45 den Ruhrschnellweg B1/A40 kreuzt. Die Abfahrt Dort­mund-Eichlinghofen auf der A45 führt zum Cam­pus Süd, die Abfahrt Dort­mund-Dorstfeld auf der A40 zum Cam­pus-Nord. An beiden Ausfahrten ist die Uni­ver­si­tät ausgeschildert.

Direkt auf dem Cam­pus Nord befindet sich die S-Bahn-Station „Dort­mund Uni­ver­si­tät“. Von dort fährt die S-Bahn-Linie S1 im 20- oder 30-Minuten-Takt zum Hauptbahnhof Dort­mund und in der Gegenrichtung zum Hauptbahnhof Düsseldorf über Bochum, Essen und Duis­burg. Außerdem ist die Uni­ver­si­tät mit den Buslinien 445, 447 und 462 zu erreichen. Eine Fahrplanauskunft findet sich auf der Homepage des Verkehrsverbundes Rhein-Ruhr, au­ßer­dem bieten die DSW21 einen interaktiven Liniennetzplan an.
 

Zu den Wahrzeichen der TU Dort­mund gehört die H-Bahn. Linie 1 verkehrt im 10-Minuten-Takt zwischen Dort­mund Eichlinghofen und dem Technologiezentrum über Cam­pus Süd und Dort­mund Uni­ver­si­tät S, Linie 2 pendelt im 5-Minuten-Takt zwischen Cam­pus Nord und Cam­pus Süd. Diese Strecke legt sie in zwei Minuten zu­rück.

Vom Flughafen Dort­mund aus gelangt man mit dem AirportExpress innerhalb von gut 20 Minuten zum Dort­mun­der Hauptbahnhof und von dort mit der S-Bahn zur Uni­ver­si­tät. Ein größeres Angebot an inter­natio­nalen Flugverbindungen bietet der etwa 60 Ki­lo­me­ter entfernte Flughafen Düsseldorf, der direkt mit der S-Bahn vom Bahnhof der Uni­ver­si­tät zu erreichen ist.

Interaktive Karte

Die Ein­rich­tun­gen der Technischen Uni­ver­si­tät Dort­mund verteilen sich auf den größeren Cam­pus Nord und den kleineren Cam­pus Süd. Zu­dem befinden sich einige Bereiche der Hoch­schu­le im angrenzenden Technologiepark.

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